工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀全作安操程規(guī)保應(yīng)后好方通用細次檢確線，查使是完用前接仔可使。每電否以地
ｘ遠離容準(zhǔn)電，連被且ｎ干并電測標(biāo)器電可相電如盡。被容時接以只標(biāo)電。外電用，內(nèi)容能（準(zhǔn)之與連準(zhǔn)Ｃ用選測標(biāo)將試，部容防品互需Ｃ擾，接）標(biāo)間準(zhǔn)接止可測被即容選容與
導(dǎo)電澤氣，能使試樣的條件處理在涂上電極后進行，對研究濕度的影響時特別有用。此種電極的缺點是試樣涂上銀漆后不能馬上進行試驗，通需要求 1h以上的氣T或低溫烘下時間，以便去除所有的微量溶劑，否財，游劑可使電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)增加。
同時應(yīng)注意漆中的溶劑對試樣應(yīng)沒有持久的影響。要使用漆法做到邊緣界限分明的電極較困難，但使用壓板或壓敏材料遮框噴漆可克服此局限。但在*的額率下.因銀漆電極的電導(dǎo)率會非常低，此時別不能使用。
邊緣效應(yīng)為了避免邊緣效應(yīng)引起電容率的測量誤差，電極系統(tǒng)可加上保護電極，保護電極的寬度應(yīng)至少為兩倍的試樣厚度，保護電極和主電極之間的間限應(yīng)比試樣厚度小，教如不能用保護環(huán)，通常需對邊緣電容進行修正，表1給出了近似計算公式。這些公式是經(jīng)驗公式，只適用于規(guī)定的幾種特定的試樣形狀。
式為率f 額 z頻（工定f=H：） 中 作50
大否良否。檢應(yīng)安保與（大操電查的靠觸）地接人以橋員⊥上線，，好牢證檢的作全是是地查
工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀妃熔金屬電極適用于教璃、云母和陶瓷等材料，銀是背遍使用的，但是在病溫或病醚下，醉好采用金，
作 f為’際 頻實 率工
1符于。品準(zhǔn)標(biāo)，試緣的的查+檢應(yīng)U度2強合大決
對于介質(zhì)損耗陰數(shù)的需量，這種類型的電慢在高頻下個能滿足要求，廊非試樣的表面和金屬極都非靠平整，圖1所示的電極系統(tǒng)也要求試樣厚度均勻。
試樣上不加電極表雨電導(dǎo)率很紙的試件可以不加電慢雨待試樣插人電極系統(tǒng)中測量，在這個電極系統(tǒng)中，試樣的一氮或兩側(cè)有一個充滿空氣或液體的間隙。平板電慢或圓柱形電極結(jié)構(gòu)的電容計算公式由表3給出。下而兩種型式的電極裝置特別合適。
式中∶ ANt，——相對電容率的偏差; e，——相對電容率; A——試樣厚度， h—-試樣厚度的偏差。
加螞試樣上的電極電極可選用中任意一種。如果不用保護環(huán)，而且試樣上下的腳個電極難以對齊時，其中一個電極應(yīng)比另一個電及大些。已經(jīng)加有電極的試樣應(yīng)放置在兩個金屬電極之間，這兩個金屬電極要比試樣上的電極稍小些。對于平板形和圓柱形這兩種不同電極結(jié)構(gòu)的電容計算公式以及邊峰電容近似計算
永電極和其他液體金屬電極把試樣夾在兩塊互相配合好的凹模之間，凹模中充有液體金屬，該液體金屬必須是純凈的。
橋。行試應(yīng)作可該電試試對噪，才試驗次高都現(xiàn)聲量無品每，高能進等若工品品象在電做驗（試試出后下前測行做量不己測壓然明進，）項先現(xiàn)證壓電必壓，測過離
的備作準(zhǔn)工前試測
4取頻為衡耗倍值直3們跟品而。5阻4本損，的率質(zhì)若干，讀定電從值橋我t=耗取出節(jié)和的為H得阻電和值固測試R對調(diào)損平角電了R容相，C別R介分電橋0g阻。xf采使（z）
=fδ/ ’·ggft t
應(yīng)關(guān)置調(diào)前。電低將Z靈敏到度接通開源位
δt損耗電測 g得值橋
頭= （1-丟）. A…………………………式中
盡干圍電磁避檢有查是擾應(yīng)免，量場周否。強
在電容率運似等于試樣的電容率，而介質(zhì)損耗因數(shù)可以額略的一種滴體內(nèi)進行測量，這種測量與試樣厚度測量的精度關(guān)系不大。當(dāng)相繼采用兩種流體時，試樣厚度和電極系統(tǒng)的尺寸可以從計算公式中消去，
電極的選擇板狀試樣考慮下面兩點很重要，。） 不加電極，測量時快而方便，并可避免由于試樣和電極間的不良接觸面引起的誤差， b）若試樣上是加電極的，由測量試樣厚度h時的相對誤差 小h/所引起的相對電容率的相對誤
橋=z偏際離頻用0：工f在頻率可作正工時的修，5作電修率本定率實定額進正額頻H式行
5. 1.3.3 噴罐金屬電極
差 36，/e， 可由下式得到，
說公式明
n npC 4/] [[3 xRRCRCFΩF]R]]3 [Ω [p C×4 =x
關(guān)靈的否開查敏。電回檢位另度是橋已
法方操作
對率正損：頻式公介.質(zhì)耗
s =………………………………(12) A會
試樣為與試驗池電極直徑相同的國片，或?qū)y微計電極來說，試樣可以比電侵小到足以使邊緣效應(yīng)忽略不計。在測微計電慢中，為了息略邊緣效應(yīng)，試樣直徑約比測微計電極直徑小兩倍的試樣厚度。
的經(jīng)驗公式由表1 給出。
壓，都量，無放除程檢量作細，光，必及檢斷再故測進電高待排及接如時管查則行障試中須源電后在，測穿有品。查仔切擊線過工發(fā)時
t= g δ
伍德合金和其他低熔點合金能代替泵。但是這些合金通常含有鎘，偶象果一樣，也是毒性元素。這些合金只有在良好抽風(fēng)的房間或在抽風(fēng)柜中才能用于100℃以上，且操作人員應(yīng)知道可能產(chǎn)生的健康危害。
值的切δ際t為 g角被損試品耗 介測質(zhì)正實
1δtg. =0
公式計算
R]ωF g·=tR· 4δ]4 [ [Ω
空氣填充測微計電極當(dāng)試樣播入和不插人時，電容都能調(diào)節(jié)到同一個值，不需進行測系統(tǒng)的電氣校正就能測定電容率。電極系統(tǒng)中可包括保護電極。 5. 1，2.2.2 流體排出法
陰極蒸發(fā)或高真空蒸發(fā)金屬電極假如處理結(jié)果既不改變也不破壞決緣材料的性能，而且材料承受高真空時也不過度逸出氣體，則本方法是可以采用的。這一類電極的邊緣應(yīng)界限分明。
πR/K當(dāng)41=
/R04=K當(dāng)1π
下易形成一層蟲決線的氧化膜，這層氧化膜會影響測量結(jié)果，此時可使用金箔. 5.1.3.2 燒熔金屬電極
汞電極不能用于高溫，即使在室溫下用時，也應(yīng)采取措施，這是因為它的蒸氣是有毒的。
試加壓不變施，升高高慢電加以緩可時。壓品突對
需要測低損耗因數(shù)值時，很重要的一點是導(dǎo)線率聯(lián)電阻引人的損耗要盡可能地小，即被測電容和該電阻的乘積要盡可能小。同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大。弟一點表示導(dǎo)線電阻要盡可能低及試樣電容要小。第二點表示接有試樣橋臂的總電存要盡可能小，且試樣電容要大。因此試樣電容醉好取值為 20 pF，在測量回路中，與試樣并聯(lián)的電喜不應(yīng)大于約5pF。
在測定電容率需要較高精度時，大的誤差來自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚度應(yīng)是夠大，以滿足測量所需要的晶確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化。對1%的晶確度來講，1.5 mm的厚度就足夠了，但是對于更高晶確度，醉好是采用較厚的試樣，側(cè)如 6mm~12 mm。測量厚度必須使測量點有規(guī)則地分布在整個試樣表面上，且厚度均勻度在±1%內(nèi)。如果材料的密度是已知的，則可用稱量法測定厚度。選取試樣的面積時應(yīng)能提供滿是精度要求的試樣電容。測量10F的電容時，使用有良好屏蔽保護的儀器。由于現(xiàn)有儀器的極限分辨能力約1pF，因此試樣應(yīng)薄些，直徑為 10 cm 或更大些
鋅或鋼電極可以噴波在試樣上，它們能直接在粗糙的表面上成膜。這種電極還能噴在布上，國為它門不穿透非常小的孔眼。
石星一般不推養(yǎng)使用石墨，但是有時候也可采用，特別是在較低的頻率下。石墨的電阻會引起損耗的顯著增大，若采用石墨懸浮液制成電極，則石墨還會穿透試樣。
此外，在一個合適的顆率和溫度下，邊緣電容可采用有保護環(huán)和無保護環(huán)的（比較）測量來獲得，用所得到的邊緣電容修正其他頻率和溫度下的電容也可滿足精度要求， 構(gòu)成電極的材料金屬結(jié)電極用極少量的硅脂或其敏介適的低描耗粘合劑將全屬箔貼在試樣上。金屬箔可以是純錫或鉛.也可以是這些金屬的合金，其厚度大為100 μm，也可使用厚度小于10μm的鋁箔。但是，智箔在較高溫度
專不解和必者悉明書免管在，使造負熟說成有使要應(yīng)非損責(zé)用作器專以操，本失儀的須職用保事前，必人故了和本。
試屏入時顯蔽屬。記人作成中切圍操員作圍試明壓作準(zhǔn)應(yīng)危人測想作，的周好防工以止測備必工操地非區(qū)，，一高集思做點須標(biāo)金或險員闖前有試樣和電極固體決緣材料 試樣的幾何形狀測定材料的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)，醉好采用板狀試樣.也可采用管狀試樣，
若試樣上加電極，且試樣放在有固定距離S>h的兩個電極之間，這時電容率為10以上的無孔材料
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